创新的界面测量技术
面对不同的界面测量需求,选用合适的测量原理
在连续和动态过程工艺中,高精度界面测量十分重要。液位总高度是始终保持不变?还是不断变化?如果液位高度变化,那么变动的范围有多大呢?进行界面测量时,液位总高度是其中的一个测量值吗?在测量过程中会出现乳化层吗?
上述问题直接关系正确的仪表选型。
我们为您详细介绍各种测量原理的适用范围、物理局限性和调试方法。我们的产品包括导波雷达物位仪、多参数导波雷达物位仪、电容物位仪或放射线物位仪,为您的应用提供技术支持。
优势
稳定的产品质量、工厂安全性和经济效率是任何测量的关键。我们为您提供Levelflex 导波雷达物位仪、Levelflex多参数导波雷达物位仪、Liquicap 电容物位仪和 Gammapilot 放射线物位仪,共四种界面测量方法。
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导波雷达物位仪:同时测量界面高度和液位高度
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多参数导波雷达物位仪:在含乳化层的应用中同时安全输出液位和界面信号
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电容物位仪:经实践验证的成熟界面测量原理
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放射线物位仪:满足多层界面测量的需求
对于界面测量,测量精度是安全控制的先决条件。测量点的可靠性和过程安全对于任意工厂运作都是至关重要的。Endress+Hauser 是全球物位测量仪表的市场领导者之一,拥有丰富的从业经验,涵盖从设计、调试到维护,以及工厂管理:我们是您的得力合作伙伴。
同机械式系统相比,Endress+Hauser为用户提供低维护需求的仪表和正确的界面测量解决方案,帮助您优化运营成本。
在设计阶段,我们的工具帮助您完成测量点选型;您可以在现场或中控室中,简单便捷的通过引导菜单完成仪表调试。
FLEX产品选型 | 仪表技术性能 | 选型便捷程度 |
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Fundamental选型 完美胜任基本测量任务 |
仪表技术性能
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选型便捷程度
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Lean选型 轻松应对关键工艺的测量挑战 |
仪表技术性能
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选型便捷程度
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Extended选型 创新技术助力工艺流程优化 |
仪表技术性能
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选型便捷程度
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Xpert选型 满足严苛工况的特殊测量要求 |
仪表技术性能
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选型便捷程度
特殊选型 |